Institute for Communication Technologies and Embedded Systems

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Low cost testing of complex digital circuits

Authors:: Stahl, J. , Meyr, H. , Zalnieriunas, A.
Book Title:: Proc. 3nd European Signal Processing Conf., EUSIPCO
Publisher:: EURASIP
Pages:: p.p. 649-652
Address:: The Hague, Netherlands
Date:: 1986
Language:: English
Download:: BibTeX